静电力显微镜

静电力显微镜（EMF）是一种扫描探针显微镜。

一种扫描探针显微镜，用于可视化样品表面的形状和静电力的分布。一种表面电势测量系统，可以扫描几mm ²的宽区域，同时具有10μm的空间分辨率，并且可以在大气压下进行高精度测量。可以使用多个扫描探针显微镜测量样品上的静电力分布，但是在非接触原子力显微镜（NC-AFM）格式中，镍探针用作仪器探针，尖端直径为5μm。长度为560μm，一端弯曲90度，并且有一个探针部分，长度为50μm。探针的位移是光纤使用干涉仪在测量。样品是绝缘体，例如树脂或无机化合物，在通过高压脉冲电源从探头施加电压并给样品表面充电而产生的静电力测量时，不与探头接地。通过用原子力显微镜扫描来测量。在区域不带电范德华力是在被检测到，在静电力的充电梯度的一个区域上的力梯度检测。