扫描离子传导显微镜

扫描电导显微镜（SICM）是一种扫描探针显微镜。

运用扫描隧道显微镜（STM）的原理，它可以可视化样品表面的形状以及诸如电解质的离子电流的二维分布信息。探针在由玻璃管制成的移液器的尖端处具有孔，并且移液器的内部充满了电解质溶液，并且在溶液环境中靠近样品表面。当对电解液施加电压时，电解液离子会流过移液器尖端的孔，但离子的电导率取决于探针和样品表面的距离和状态，因此当探针靠近样品表面时离子电流会流动。由于离子的电阻增加，因此可以通过二维扫描探针来观察离子电流的流动性（离子电导率）。通过反馈控制探头位置以使电导率恒定，可以获得与STM中恒定隧道电流图像相对应的样品表面形状图像。

另外，在对应于STM中的恒定高度模式的扫描方法中，可以通过保持高度恒定来获得孔的分布图像，但是如果样品的不均匀性较大，则将其调制为离子电流值。因此，由于图像是流过样品孔^[1]的形状信息和离子流信息的混合，因此很难解释图像。