弹道电子发射显微镜简介

弹道电子发射显微镜（BEEM）获得由弹道电子的图像扫描隧道显微镜的类型。

由于测量技术的发展，人们已经更好地了解了固体表面的结构和电子状态，但由于非破坏性研究的困难，人们仍不了解直接在表面下的界面。并于1988年由LD。。。

在BEEM中，来自扫描隧道显微镜（STM）探针的隧道电流到达样品表面上的金属层，并且可以通过测量该隧道电流来获得正常的STM图像。另一方面，当金属层的厚度小于金属层中电子的平均自由程长度时，到达金属层的一些电子弹道地穿过金属层到达下半导体集电极层。